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離子遷移譜(IMS)是大氣壓下的質(zhì)譜。

IMS技術在小型化以及微型化方面則具有其之處：

第一，不需要真空系統(tǒng)，整個裝置可以做得很小。

第二，其靈敏度高，而質(zhì)譜一般是微克(ug)量級，在不加任何富集的情況下，IMS就可以達到皮克(pg)量級，這些特點使得其很適合于現(xiàn)場在線快速分析;加上近幾年出現(xiàn)的更新探測器技術，又可能達到飛克(fg)量級;如果再加上新的手段，其在靈敏度上的前景就不可限。

第三，具有很好的結構區(qū)分性，能對同分異構體等實現(xiàn)很好的區(qū)分。

IMS原理很簡單，采用電離源將中性分子電離成離子，再在電場作用下漂移，不同的離子的遷移率不同，從而將其鑒別出來。

離子遷移譜儀的工作原理

離子遷移譜儀IMS采用的是目前較成熟的物理方法中的離子遷移譜(IMS)技術。IMS技術是從20世紀60年代作為一種常壓下檢測痕量氣態(tài)化學物質(zhì)而發(fā)展起來的一門新的檢測技術。離子遷移譜技術的核心部件是漂移管,基本原理是:首先被檢測的樣品蒸汽或微粒氣化后經(jīng)過一層半滲透膜濾除其中的煙霧、無機分子和水分子等雜質(zhì),然后被載氣攜帶進入漂移管的反應區(qū),如圖1所示。在反應區(qū)內(nèi),樣品氣首先被63Ni放射源發(fā)射的射線電離,形成產(chǎn)物離子,在反應區(qū)電場的作用下,產(chǎn)物離子移向離子門?？刂齐x子門的開關脈沖,形成周期性進入漂移區(qū)的離子脈沖。在漂移電場的作用下,產(chǎn)物離子沿軸向向收集電極漂移。離子的遷移率依賴于其質(zhì)量、尺寸和所帶電荷。不同物質(zhì)生成的產(chǎn)物離子在同一電場下的遷移率不同,因此通過整個漂移區(qū)長度所用的漂移時間也不同。在已知漂移區(qū)長度和漂移區(qū)內(nèi)電場條件下,測量出離子通過漂移區(qū)到達收集電極所用的時間,就可以計算出離子的遷移率(遷移率的定義是指在單位電場強度作用下離子的漂移速度),從而可以辨識被檢測物種類;通過測量離子峰的面積,就可以估算出被檢測物的濃度;通過改變反應區(qū)和漂移區(qū)電場方向,IMS漂移管可以同時監(jiān)測正負離子。因此,可以同時監(jiān)測多種化學物質(zhì)。

離子遷移譜儀的技術指標

技術指標離子源：脈沖輝光放電離子源。分析時間：分鐘級&。探測靈敏度：ppb，克倫特羅達到1ppb，達到0.5ppb&。工作電壓：220V/50Hz。預熱時間：30分鐘。設備接口：USB/以太網(wǎng)口/VGA。

離子遷移譜儀的主要功能

肉制品生產(chǎn)、加工與銷售企業(yè)乳制品生產(chǎn)、加工與銷售企業(yè)油脂生產(chǎn)、加工與銷售企業(yè)。蔬菜生產(chǎn)、加工與銷售企業(yè)。工商部門。第三方檢測部門。大專院校及科研機構實驗室。